CST-50型沖擊試樣缺口投影儀本投影儀是我公司根據(jù)目前國內廣大用戶的實際需求和GB/T229-94《金屬夏比缺口沖擊試驗方法》中對沖擊試樣缺口的要求而設計、開發(fā)的一種專用于檢查夏比V型和U型沖擊試樣缺口加工質量的專用光學儀器，CST-50型沖擊試樣缺口投影儀是利用光學投影方法將被測的沖擊試樣V型和U型缺口標準樣板圖對比，以確定被檢測的沖擊試樣缺口加工是否合格，其優(yōu)點是操作簡便，檢查對比直觀，效率高。

操作注意事項

對于夏比V型缺口沖擊試驗，由于試樣V型缺口要求嚴格(試樣缺口深2mm、呈45?角且試樣缺口尖端要求R0.25±0.25)，故在整個試驗過程中，試樣的V型缺口加工是否合格成了關鍵問題，如果試樣缺口的加工質量不合格，那么其試驗的結果是不可信的，特別是R0.25mm缺口尖端的微小變化(其公差帶只有0.25mm)都會引起試驗結果的陡跳，尤其是在試驗的臨界值時會引起產品報廢或合格兩種截然相反的結果。為保證加工出的夏比V型缺口合格，對缺口的加工質量檢驗是一個重要的質量控制手段。

1投影屏直徑180

2工作臺尺寸方工作臺110×125

圓工作臺∮90

工作臺玻璃直徑∮70

3工作臺行程縱向10mm

橫向10mm

升降10mm

4工作臺轉動范圍0～360o

儀器放大倍率50×

物鏡放大倍率2.5×

投影物鏡放大倍率20×

光源(鹵鎢燈)12V/100W

5電源220V/50Hz

6外型尺寸515×224×603mm(長×寬×高)

重量約18kg